本發(fā)明公開了一種陽(yáng)極氧化層缺陷評(píng)估優(yōu)化方法及系統(tǒng)，涉及氧化層測(cè)試分析技術(shù)領(lǐng)域，所述方法包括：對(duì)陽(yáng)極氧化層圖像信息進(jìn)行區(qū)域分割和色彩分析，獲得氧化層外觀特征信息和氧化層色差分析信息；對(duì)待評(píng)估陽(yáng)極氧化層進(jìn)行理化測(cè)試分析，獲得氧化層理化性能測(cè)試系數(shù)；基于氧化層應(yīng)用層級(jí)信息對(duì)氧化層缺陷評(píng)估模型進(jìn)行優(yōu)化更新，獲得氧化層缺陷優(yōu)化評(píng)估模型；將所述氧化層外觀特征信息、氧化層色差分析信息、氧化層理化性能測(cè)試信息輸入至氧化層缺陷優(yōu)化評(píng)估模型中，獲得陽(yáng)極氧化層缺陷信息，并基于陽(yáng)極氧化層缺陷信息對(duì)待評(píng)估陽(yáng)極氧化層進(jìn)行優(yōu)化處理。達(dá)到提高氧化層缺陷評(píng)估結(jié)果的準(zhǔn)確性和評(píng)估效率，進(jìn)而保證覆層制品應(yīng)用質(zhì)量的技術(shù)效果。